摘要:碳化硅(SiC)是由硅(Si)和碳(C)组成的半导体化合物,属于宽带隙(WBG)材料系列。因它的物理结合力非常强,使半导体具有很高的机械、化学和热稳定性。
碳化硅 (SiC) 是由硅 (Si) 和碳 (C) 组成的半导体化合物,属于宽带隙 (WBG) 材料系列。因它的物理结合力非常强,使半导体具有很高的机械、化学和热稳定性。
宽带隙和高热稳定性允许 SiC器件在高于硅的结温下使用,甚至超过 200°C。
碳化硅在功率应用中的主要优势是其低漂移区电阻,这是高压功率器件的关键因素。
硅与碳的结合使这种材料具有出色的机械、化学和热性能,包括:
1.导热系数高;
2.热膨胀系数低和优异的抗热震性;
3.低功率和开关损耗;
4.高能效;
5.高工作频率和温度(工作温度高达 200°C 结点);
6.小芯片尺寸(具有相同的击穿电压);
7.本征体二极管(MOSFET 器件);
8.出色的热管理,可降低冷却要求;
9.寿命长。
碳化硅是一种非常适合电力应用的半导体,这主要归功于它具有更高的热导率、更高的电子迁移率和更低的功率损耗。
碳化硅二极管和晶体管还可以在更高的频率和温度下工作,而不会影响可靠性。
SiC 器件的主要应用,例如肖特基二极管和 FET/MOSFET 晶体管,包括转换器、逆变器、电源、电池充电器和电机控制系统。
功率器件,尤其是 MOSFET,必须能够处理极高的电压。由于电场的介电击穿强度比硅高约十倍,SiC 可以可以承受更高的电压,从 600V 到几千伏。
SiC 可以使用比硅更高的掺杂浓度,并且漂移层可以做得非常薄。漂移层越薄,其电阻越低。理论上,给定高电压,单位面积漂移层的电阻可以降低到硅的1/300。
重要参数是热导率,它是半导体如何散发其产生的热量的指标。如果半导体不能有效散热,则器件可以承受的最大工作电压和温度会受到限制。
这就是碳化硅优于硅的另一个领域:碳化硅的导热率为 1490 W/mK,而硅的导热率为 150 W/mK。
尽管硅是电子产品中使用最广泛的半导体,但其开始显示出一些局限性,尤其是在高功率应用中。这些应用中的一个相关因素是半导体提供的带隙或能隙。
硅的带隙约为 1.12eV,而碳化硅的带隙值约为 3.26eV 的近三倍。
当带隙很高时,它使用的电子设备可以更小、运行得更快、更可靠。它还可以在比其他半导体更高的温度、电压和频率下运行。
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